Цветовая схема:
C C C C
Шрифт
Arial Times New Roman
Размер шрифта
A A A
Кернинг
1 2 3
Изображения:

Курсы

«Ключевые процессы изготовления полупроводниковых структур: формирование фоторезистивной маски и химико-механическая полировка поверхности пластин»

Отправить заявку

Описание

КАТЕГОРИЯ СЛУШАТЕЛЕЙ

Модуль может быть использован в составе программ бакалавриата и магистратуры по направлениям «Конструирование и технология электронных средств» и «Электроника и наноэлектроника» как дисциплина по выбору студента или факультатив, программ дополнительного образования повышения квалификации в области технологии производства наноразмерных полупроводниковых приборов и интегральных схем, а также как самостоятельный курс кратковременного повышения квалификации.

УЧЕБНО-ТЕМАТИЧЕСКИЙ ПЛАН

  • Методы разработки технологических процессов химико-механической планаризации
  • Методы исследования новых расходных материалов, применяемых для процессов химико-механической планаризации
  • Методы оценки эффективности оборудования для процессов химико-механической планаризации.
ОБЩЕЕ КОЛИЧЕСТВО АКАДЕМИЧЕСКИХ ЧАСОВ

Объем программы (вариативный) max:

  • 58 часов – лекции и практические занятия
  • 32 часа  – изучение дополнительных материалов, выполнение заданий, консультации с преподавателями.
ФОРМА ОБУЧЕНИЯ

Очная, очно-заочная, дистанционная, гибридная (регулируется объемом выбранных часов

min – 5 чел

max – 15 чел

УЧЕБНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ

  • работа на ПК с предустановленным ПО
ДОКУМЕНТ ПО ОКОНЧАНИИ ОБУЧЕНИЯ

  • Удостоверение о повышении квалификации


Программа

Персональная компетенция 1:
Разрабатывать технологические процессы химико-механической планаризации функциональных слоев кремниевых пластин в маршруте производства изделий микро- и наноэлектроники в соответствии с заданными характеристиками.

Знать

зависимости кинетических факторов от параметров процесса химико-механической планаризации

зависимости параметров процесса химико-механической планаризации от характеристик оборудования

классификация методов математического моделирования и оптимизации процессов химико-механической планаризации

классификация методов статистического контроля параметров технологических процессов химико-механической планаризации

классификация процессов химико-механической планаризации, применяемых в технологии производства изделий микро- и наноэлектроники

классификация процессов химико-механической планаризации, применяемых в маршруте производства изделий микро- и наноэлектроники

классификация расходных материалов процессов химико-механической планаризации

классификация химических реагентов для очистки поверхности кремниевых пластин после процесса химико-механической планаризации

классификация, типы и назначение приборов и оборудования для измерения толщины тонких пленок

конструктивные особенности оснастки и оборудования для процессов химико-механической планаризации

мматематические модели удаления материала в процессе химико-механической планаризации

методика математического расчета значений параметров, полученных по результатам обработки выходных параметров

методы визуализации результатов измерений, полученных после процесса химико-механической планаризации

методы измерения характеристик пленок до и после процесса химико-механической планаризации.

Уметь

задавать рабочие параметры и режимы технологического процесса химико-механической планаризации

искать и выбирать расходные материалы и оборудование для осуществления операций химико-механической планаризации

контролировать и анализировать входные и выходные параметры процесса химико-механической планаризации

моделировать результаты процесса химико-механической планаризации

определять методы контроля и контролируемые параметры процесса химико-механической планаризации

оценивать и интерпретировать результаты процесса химико-механической планаризации слоев кремниевых пластин.

Иметь практический опыт

разработка режимов процесса химико-механической полировки.

Персональная компетенция 2: 

Оценивать эффективность применения новых расходных материалов и оборудования для процессов химико-механической планаризации в маршруте производства изделий микро- и наноэлектроники в соответствии с техническими требованиями.

Знать

• методы контроля состояния оборудования для проведения процессов химико-механической планаризации

• методы очистки поверхности кремниевых пластин после процесса химико-механической планаризации

• методы статистической обработки результатов измерений, полученных после процесса химико-механической планаризации

• нормы расходования материалов в технологических процессах химико-механической планаризации

• перечень и назначение материалов слоя, обрабатываемого в процессе химико-механической планаризации

• принцип работы и технические характеристики оборудования для процессов химико-механической планаризации

• принципы контактного взаимодействия в системе «полировальная подушка-суспензия-пластина» для процессов химико-механической планаризации

• свойства и характеристики расходных материалов процесса химико-механической планаризации

• свойства химических реагентов для очистки поверхности кремниевых пластин после процесса химико-механической планаризации

• содержание и назначение базовых технологических процессов производства изделий микро- и наноэлектроники

• требования к оформлению отчетной документации по экспериментальной работе

• требования к параметрам исходных кремниевых пластин для процесса химико-механической планаризации и их подготовке

• устройство и принцип работы систем доставки химических реагентов для очистки поверхности кремниевых пластин после процесса химико-механической планаризации

• устройство и принцип работы систем доставки, подготовки, фильтрации и утилизации суспензии

• факторы, влияющие на взаимодействие полировальной подушки с кремниевой пластиной

• физические, кинетические параметры и их влияние на процесс химико-механической планаризации

• химические реакции процесса химико-механической планаризации слоёв в маршруте производства изделий микро- и наноэлектроники

• этапы планирования экспериментальной работы и их содержание

• этапы технологического процесса производства изделий микро- и наноэлектроники.

Уметь

 • рассчитывать потребление материалов для обеспечения технологического процесса химико-механической планаризации.

Иметь практический опыт

 • опыт проведения экспериментальных работ по подбору и освоению новых расходных материалов и оборудования для процессов химико-механической полировки

• составлять план экспериментальной работы и отчетную документацию по итогам ее проведения

• формировать требования к расходным материалам и оборудованию процесса химико-механической планаризации


Стоимость

Форма обучения Количество часов Продолжительность Стоимость занятия(руб.) Стоимость курса(руб.) Скидки(%) Цена со скидкой
«Ключевые процессы изготовления полупроводниковых структур: формирование фоторезистивной маски и химико-механическая полировка поверхности пластин» Объем программы (вариативный) max: 58 часов – лекции и практические занятия 32 часа – изучение дополнительных материалов, выполнение заданий, консультации с преподавателями вариативный От 50 000 – 1 чел

Записаться на курс

Наши контакты

загрузка карты...

Адрес: Зеленоград, ул. Академика Валиева, д.6, стр.1

Телефон: +7 (495) 229 70 64

E-mail: info@neo-niime.ru